Diagnóstico sobre tecnologías y metodologías para la cartografía censal

20 Nov 2025 | Publication

Diagnóstico sobre tecnologías y metodologías para la cartografía censal

  • Publication type: Statistical Conference of the Americas of ECLAC
  • Publication corporate author (Institutional author): NU. CEPAL
  • Physical description: 45 páginas
  • Publisher: CEPAL
  • UN symbol (Signature): LC/CEA.13/DDR/1
  • Date: 20 November 2025
View full record in repository