Diagnóstico sobre tecnologías y metodologías para la cartografía censal
20 Nov 2025
|
Publication
Work area(s)
Diagnóstico sobre tecnologías y metodologías para la cartografía censal
- Publication type: Statistical Conference of the Americas of ECLAC
- Publication corporate author (Institutional author): NU. CEPAL
- Physical description: 45 páginas
- Publisher: CEPAL
- UN symbol (Signature): LC/CEA.13/DDR/1
- Date: 20 November 2025